一种基于SOI CMOS工艺的三维集成芯片的制备方法及结构

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一种基于SOI CMOS工艺的三维集成芯片的制备方法及结构
申请号:CN202510750413
申请日期:2025-06-06
公开号:CN120261308B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明属于半导体集成电路技术领域,具体涉及一种基于SOI CMOS工艺的三维集成芯片的制备方法及结构。本发明使用SOI CMOS工艺制备多个不同功能的晶圆,然后通过临时键合、衬底去除、晶圆对准、永久键合、解临时键合、金属互连等工艺将多个晶圆逐层堆叠形成三维集成芯片。本发明制造方法具有与硅基工艺兼容,降低工艺开发难度;可在不影响器件性能的前提下降衬底完全去除,缩短芯片间互连距离;采用临时键合的方式,通过可见光即可实现高精度对准;采用芯片正面向上逐层堆叠的方式,电路设计无需镜像、翻转等操作,极大地降低了电路设计难点;可将不同制程的芯片分开制造,大幅降低芯片制备成本等优点。
技术关键词
SOICMOS工艺 三维集成芯片结构 SOI圆片 栅氧介质 硅衬底 多晶硅 等离子体表面改性 金属布线工艺 堆叠集成电路 金属互连 退火工艺 三维集成电路 CMP工艺 晶体管器件 玻璃
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