一种芯片测试装置及其测试方法

本发明申请公开了一种芯片测试装置及其测试方法，属于芯片测试技术领域，芯片测试装置包括：NY86芯片，VDD引脚连接外部电源正极，VSS引脚连接外部电源负极，VDD引脚通过第一电容连接VSS引脚；第一电阻的一端连接PIRIN引脚，第一电阻的另一端接地；第一开关位于第一电阻、PIRIN引脚之间，第一开关的一端连接PIRIN引脚，第一开关的另一端连接第三电阻的一端，第三电阻的另一端接地；第二电阻的一端连接NPIRIN引脚，第二电阻的另一端接地；第二开关位于第二电阻、NPIRIN引脚之间，第二开关的一端连接NPIRIN引脚，第二开关的另一端连接第四电阻的一端，第四电阻的另一端接地；PIRIN引脚通过第二电容与NPIRIN引脚连接。本发明申请提高了芯片测试的灵活性。