基于点云精配准的检测方法

本发明揭示了一种基于点云精配准的检测方法，所述方法包括如下步骤：利用标准元件的参考点云进行模板匹配训练获取特征点，并保存模板匹配结果参数为第一匹配参数；采集待检测元件的点云以形成目标点云，进行模板匹配训练得到第二匹配参数；取得第二匹配参数与第一匹配参数的差值，将此差值转换成RT矩阵，并利用此RT矩阵对上述的参考点云进行转换形成第二参考点云；通过ICP算法对第二参考点云进行处理，以与目标点云重合；取得第二参考点云的高度图；取得目标点云的高度图，利用第二参考点云的高度图与目标点云的高度图获取同一个点位的高度差；根据所述高度差与设定的阈值比较，判断待检测元件是否合格。