基于OES光谱的单晶金刚石沉积质量智能检测方法

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基于OES光谱的单晶金刚石沉积质量智能检测方法
申请号:CN202510754881
申请日期:2025-06-06
公开号:CN120683482A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于OES光谱的单晶金刚石沉积质量智能检测方法,所述方法包括:在沉积区域提取OES光谱数据,并进行预处理,通过卷积神经网络从预处理后的OES光谱数据中提取光谱特征,并计算等离子体特征参数;所述等离子体特征参数包括电子密度和电子温度,构建时序预测模型,获得等离子体特征参数与沉积指标的关联模型,根据所述关联模型对沉积质量进行检测,并根据检测结果对工艺参数进行反馈控制。该方法通过集成光学发射光谱技术与智能算法,克服传统检测方法的局限性,实现等离子体参数的动态分析及沉积质量的高精度预测,同时具有较好的可解释性。
技术关键词
智能检测方法 单晶金刚石 时序预测模型 发射光谱技术 晶体缺陷密度 PID控制算法 长短期记忆网络 数据 噪声滤波 集成光学 电子 扫描电镜 光致发光 参数 智能算法 预测误差 离线 波长 强度 表达式
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