基于异步电路时序的MTBF检查及优化方法

本发明公开了一种基于异步电路时序的MTBF检查及优化方法，本发明通过MTBF公式对获取的异步电路时序报告中的参数进行自动计算，得到当前异步电路的MTBF值；再根据当前异步电路的MTBF值判断芯片寿命时间是否符合要求，若不符合要求便对其进行优化，实现在芯片设计阶段进行寿命检查及优化，以保证了芯片满足其应用场景的可靠性要求，并降低了成本。