一种IIC总线抗干扰能力的自动化测试系统和方法

本发明揭示了一种IIC总线抗干扰能力的自动化测试系统及方法，通过可编程MCU模拟主控端行为，动态重构包含Start/Stop条件异常、地址位冗余/缺失、数据位序列畸变等复合干扰场景；同时结合硬件反馈环路实时监测从设备响应，实现干扰注入‑协议解析‑错误检测的全闭环测试。相较于传统方案，本系统可精准复现总线竞争、时序抖动、电平漂移等典型干扰模型，并通过自动化脚本引擎实现多维度测试用例的批量执行与量化评估，显著提升测试效率与结果可信度。