一种二极管芯片高温耐电测试设备及使用方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种二极管芯片高温耐电测试设备及使用方法，包括内设芯片安装架的测试柜，且测试柜的正面转动设置有柜门，所述测试柜的内顶部固定设置有顶板，且顶板上滑动连接有带槽的滑架，所述柜门的内侧设置有带勾的拉杆。该种二极管芯片高温耐电测试设备及使用方法，通过机械联动装置自动控制隔离罩的旋转运动，在柜门开闭时形成动态热屏障，有效分隔高温测试区与操作区，保持各自温度稳定性，隔离罩的运动与柜门开闭同步联动，确保操作过程中高温区域始终被物理隔离，降低人员接触高温表面的风险，系统通过隔离罩的精准定位，最小化热量散失区域，减少重复测试时的热能补充需求，提升整体能效。