一种微波芯片模组测试夹具装置

本发明属于芯片模组测试技术领域，具体的说是一种微波芯片模组测试夹具装置，包括；底座；基座，固接在底座顶部的一端设有基座；限位机构，设有两组，均设在底座的顶部，用于固定微波芯片模组，所述基座与微波芯片模组电气连接；散热机构，设在底座的内部；通过设置散热机构，通电测试过程中，通过温度传感器检测到芯片模组底部的温度高于一定的阈值，经温度传感器将温度信号传输至系统，由系统控制循环水泵和风扇开启，通过循环水泵将冷却箱内的冷却液循环输送在冷却管内，然后通过风扇将冷气通过排气孔吹在微波芯片模组，用于对微波芯片模组降温散热，实现对微波芯片模组快速降温散热的功能。