一种基于统计学理论的LPDDR4X仿真方法及系统

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推荐专利
一种基于统计学理论的LPDDR4X仿真方法及系统
申请号:CN202510765420
申请日期:2025-06-10
公开号:CN120671616A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于统计学理论的LPDDR4X仿真方法及系统,该方法包括:构建用于模拟LPDDR4X信号传输特性的单字节BYTE的时域仿真平台;对单字节BYTE内每个信号对应的封装和PCB通道进行走线延时分析,捕捉信号传输中的时序不一致性,进而捕捉相位串扰噪声对眼高的影响;对信号进行脉冲响应分析,量化封装和PCB通道引起的ISI噪声基础数据;单独分析每个信号受串扰噪声的影响,得到噪声对眼高的直接影响数据;利用MATLAB脚本处理ISI噪声基础数据及直接影响数据,提取主光标电压值、ISI噪声幅值和串扰噪声;根据主光标电压值、ISI噪声幅值及串扰噪声,计算最终眼图眼高。本发明了解决传统仿真方法对眼图高度评估不足的问题,能够为高速低功耗DDR设计提供更精确、高效的仿真支持。
技术关键词
仿真方法 串扰噪声 光标 理论 信号 IBIS模型 仿真平台 电压 时序 反射噪声 符号间干扰 电磁仿真 计算机 数据 通道 处理器 接收端 仿真系统
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沪ICP备2023015588号