一种燕窝去杂流程中的燕窝评估方法及燕窝去杂系统

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一种燕窝去杂流程中的燕窝评估方法及燕窝去杂系统
申请号:CN202510767240
申请日期:2025-06-10
公开号:CN120690316A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种燕窝去杂流程中的燕窝评估方法及燕窝去杂系统,属于燕窝检测领域。针对现有燕窝行业制备过程中容易出现掺假,且燕窝加工过程中检测难度大的问题,本发明提供了一种燕窝去杂流程中的燕窝评估方法,包括基于杂质样本获得第一燕窝样本;并构建第一检测模型对第一燕窝样本进行检测,获得第一燕窝样本成分特征的第一检测结果;基于干净燕窝获取第二燕窝样本,并构建第二检测模型对第二燕窝样本进行检测,获得第二燕窝样本物理特征的第二检测结果;基于第一检测结果和第二检测结果获得燕窝的评估结果。本发明通过第一检测模型和第二检测模型分别对杂质样本和干净燕窝进行针对性检测,从而可以在降低燕窝损耗的情况下,增加对燕窝取样的全面性和随机性,并输出可靠的燕窝评估结果,极大程度的保障了燕窝检测的准确性和可靠性,同时不影响燕窝的加工效率。
技术关键词
样本 挑拣台 去杂系统 真空吸附头 高光谱成像技术 拍照装置 糖蛋白 主成分分析算法 筛检设备 挑拣设备 燕窝加工过程 矩阵 干燕窝 光谱检测设备 高风险 光电传感器 高分辨率相机
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沪ICP备2023015588号