一种基于卷积神经网络的超表面天线参数优化方法及系统

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推荐专利
一种基于卷积神经网络的超表面天线参数优化方法及系统
申请号:CN202510771102
申请日期:2025-06-10
公开号:CN120633435A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及超表面天线技术领域,提出了一种基于卷积神经网络的超表面天线参数优化方法及系统,包括:采集超表面样本数据;提取综合电磁特征集,并建立非线性映射关系模型;构建天线性能综合评价函数,将非线性映射关系模型与天线性能综合评价函数输入混合优化算法,生成参数候选集,并利用粒子群算法对参数候选集进行局部寻优,得到超表面天线参数组合;提取超表面天线参数组合的电磁特征,迭代调整谐振腔高度参数直至满足阈值,得到电磁仿真验证结果,将电磁仿真验证结果反馈至深度Q神经网络模型进行参数更新,得到最优超表面天线参数组合。本发明实现了天线参数的优化,提高了超表面天线设计效率,减少了电磁仿真计算资源消耗。
技术关键词
双流卷积神经网络 超表面 非线性映射关系 参数优化方法 深度Q神经网络 混合优化算法 电磁仿真 谐振腔 量子粒子群算法 生成参数 遗传算法 天线参数优化系统 样本 分支 频段 频率
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