一种MicroLED显示器的自动化光电测试与缺陷检测方法及系统

本发明提出了一种MicroLED显示器的自动化光电测试与缺陷检测方法及系统。属于显示器检测技术领域。属于显示器检测技术领域；所述方法包括：利用高精度光电传感器阵列对MicroLED显示器进行全面扫描，采集显示器的初始光电信号数据；对采集到的初始光电信号数据进行预处理；得到标准光电信号数据，基于显示器的布局和分辨率信息，对得到的标准光电信号数据进行像素点定位，确定每个像素点的位置坐标；并根据显示器的显示区域特性，将显示器划分为多个子区域。通过高精度光电传感器阵列对MicroLED显示器进行全面扫描，结合自动化数据采集和处理流程，显著提升了光电测试的精度和效率，减少了人工干预，提高了检测的一致性和可靠性。