一种跟踪扫描测量装置及测量方法

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一种跟踪扫描测量装置及测量方法
申请号:CN202510775588
申请日期:2025-06-11
公开号:CN120558086A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种跟踪扫描测量装置及测量方法,包括基准定位模块和跟踪扫描模组,其中基准定位模块用于对待检测零件进行初步标定,获取若干基准点;跟踪扫描模组用于对待检测零件进行自动扫描,获取其实际三维点云模型;测量装置还包括控制器,所述控制器分别与所述基准定位模块和所述跟踪扫扫描模组通信相连;与现有技术相比,本申请实现了待检测零件的自动标定和自动扫描作业,同时还能够通过基准点实现自动匹配和自动判定,并输出最终的判断结果,从而尽可能的提高了零部件检测过程的自动化,提高了检测效率,同时降低了人力成本;且由于所有测量工作自动完成,因此其能够有效降低工作人员操作失误对测量的不良影响,有利于提高检测精度。
技术关键词
三维点云模型 三维模型 扫描模组 定位模块 测量方法 视觉定位器 扫描机器人 标靶球 基准 移动机器人运动 站点 检测零件表面 扫描路径规划 偏差 旋转台 控制器 坐标 扫描作业
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