一种适用于具有粗糙表面岩石样品孔隙度测量的外表体积校正方法及装置

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一种适用于具有粗糙表面岩石样品孔隙度测量的外表体积校正方法及装置
申请号:CN202510776334
申请日期:2025-06-11
公开号:CN120489900A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种适用于具有粗糙表面岩石样品孔隙度测量的外表体积校正方法及装置。所述方法包括:获取扫描原始切片数据;根据扫描原始切片数据获取能够表征岩石骨架组分的二值图像数据体D骨架ROI;根据D骨架ROI的获取均值处理后的二值图像数据体D实ROI的体积V实;根据均值处理后的二值图像数据体D实ROI获取岩样外表面发育孔隙体积总和V表孔;根据所述体积V实以及岩样外表面发育孔隙体积总和V表孔获取校正后的岩样外表体积V外表体积。本申请可为低孔致密、质脆易碎类岩石提供高精度的外表体积测量结果,由此提高岩石氦气孔隙度测试结果准确性。
技术关键词
校正方法 二值图像数据 岩石骨架 切片 基准面 数据体 数据获取模块 CT扫描 氦气 校正装置 三维图像数据 大津算法 轮廓 体重 固体 分辨率
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