一种拉晶过程中自动测电阻率的方法

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一种拉晶过程中自动测电阻率的方法
申请号:CN202510783730
申请日期:2025-06-12
公开号:CN120522239A
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种拉晶过程中自动测电阻率的方法,通过在拉晶炉水冷屏内设置激励线圈,通以交变电流产生磁场,利用晶棒的旋转和提升运动切割磁场生成涡流,测量线圈阻抗变化,结合公式计算电阻率。根据拉晶工艺中引晶、放肩、转肩和等径阶段的不同拉速,动态调整交变电流频率和采样率,优化涡流信号灵敏度。采用温度监测装置实时获取晶棒表面温度,结合第一性原理计算或分子动力学模拟,校正温度对电阻率的误差。机器学习算法基于历史掺杂数据库预测肩部电阻率。本方法实现拉晶过程的实时、精确电阻率测量,显著提高产品良率,减少电阻反切,适用于光伏和半导体单晶硅生产,为工艺优化提供高效、可靠的解决方案。
技术关键词
采样率 涡流 拉晶工艺 线圈 机器学习算法 数据处理模块 电流 阶段 温度监测装置 阻抗分析仪 频率 锁相放大器 信号采集模块 红外测温仪 切割磁场 误差校正 水冷 霍尔传感器 预测误差 随机森林
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