纳米晶继电器耐压测试装置

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推荐专利
纳米晶继电器耐压测试装置
申请号:CN202510785549
申请日期:2025-06-12
公开号:CN120652232A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了纳米晶继电器耐压测试装置,涉及继电器检测技术领域;本发明包括:传输架,其两端均转动设置有齿轴,两个所述齿轴上传动绕设有齿带,其中一个所述齿轴的端部连接有设置在传输架上的第一电机;测试机构,包括固设在传输架上的安装架,所述安装架上设置有耐压测试仪;本发明继电器通过齿带进行流水线式传输检测,探杆、第一弹簧以及套筒组成一个可弹性伸缩的探针结构,且探针结构通过电动推杆进行升降,既可以确保探杆有效与继电器接触进行检测,又能避免探杆发生断裂,同时,通过快分阻颤机构的防护,以确保检测完成后,探杆可以快速上升分离,避免因弹性伸缩产生的颤动,避免电弧产生,以确保连续化检测的顺利进行。
技术关键词
纳米晶 探杆 耐压测试仪 齿轴 继电器检测技术 探针结构 测试机构 套筒 活动板 锥形 套壳 安装块 流水线式 机械臂 支撑块 卡块 阵列 卡槽
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