芯片设计验证方法及相关装置

本申请实施例提供一种芯片设计验证方法及相关装置，所述芯片设计验证方法包括：获取待测芯片设计并执行所述待测芯片设计；在执行待测芯片设计的过程中，检测到待测芯片设计处理的当前事务因输入阻塞条件而产生阻塞延迟时，如果确定阻塞延迟超过预设阻塞周期数上限，则解除由输入阻塞条件造成的阻塞延迟，继续处理当前事务；在继续处理当前事务的过程中，如果检测到当前事务因非输入阻塞条件而产生事务处理延迟，且确定事务处理延迟超过预设延迟上限，则返回错误指示；其中，事务处理延迟为，当前事务的开始信号有效的时刻至完成信号有效的时刻之间的时间差。通过对事务处理延迟检测可以避免遗漏芯片内出现问题的场景，增强对问题检测的全面性。