测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品

本公开公开了一种测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，该测试方法包括：在第一时钟频率下，通过第一写命令向待测芯片的第一地址写入第一数据；在第二时钟频率下，向待测芯片发送至少一个第一读命令和第二写命令，且至少一个第一读命令和第二写命令之间满足预设时序要求，以使待测芯片将从第一地址中读取到的第二数据写回待测芯片的第二地址；其中，第一读命令表征从第一地址读取数据，第二写命令表征向第二地址写入数据；在第三时钟频率下，通过第二读命令从第二地址读取第三数据；并根据第三数据与第一数据，确定待测芯片的读写测试结果；其中，第一时钟频率和第三时钟频率均低于第二时钟频率。如此，提高高速测试的覆盖率。