一种基于ATE的ADC测试信号源的生成方法及测试方法及系统

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一种基于ATE的ADC测试信号源的生成方法及测试方法及系统
申请号:CN202510791188
申请日期:2025-06-13
公开号:CN120691881A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于ATE的ADC测试信号源的生成方法及测试方法及系统,涉及信号源生产技术领域,所述方法包括:基于预设输出值,将第一数字信号、第二数字信号和第三数字信号分别输入第一数模转换器、第二数模转换器和第三数模转换器后输入调整模块,获得补偿表,基于所述补偿表获得用于测试ADC的测试信号源,可以解决现有ATE高精度模拟信号源精度不足的问题。
技术关键词
集成电路自动测试设备 数模转换器 校验设备 生成方法 模拟信号源 运算放大器 电阻 测试方法 模块 校准 控制器 芯片 加法器 精度 电压 幅值 输入端
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沪ICP备2023015588号