一种原子级应力动态测量方法与系统

本发明提供了一种原子级应力动态测量方法与系统，所述方法包括利用球差校正透射电子显微镜Cs‑TEM获取材料界面的原子分辨率图像；针对所述原子分辨率图像通过计算机视觉算法自动定位原子中心并计算晶格参数；基于局部应力张量模型量化原子级应变分布；结合原位加热与动态观测技术，实时捕捉应力场随温度与时间的演变规律。本发明的方案可广泛应用于电子封装材料、金属间化合物及纳米器件的可靠性优化，显著提升材料设计与工艺控制的精准度。