一种封装打线结构及封装打线方法

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一种封装打线结构及封装打线方法
申请号:CN202510803623
申请日期:2025-06-17
公开号:CN120341205B
公开日期:2025-10-24
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种封装打线结构及封装打线方法,根据单个焊点打线的密度进行分层打线。将低密度焊点直接打线并经过一层塑封体塑封隔离;高密度的焊点经过错层导电构件错层,并利用导电延展部来扩大焊点面积,使得错层后的高密度的焊点打线密度降低,不会产生打线过程中以及后续工艺冲线短路问题。多层分层打线并分别塑封隔离的打线方法,使得各个密度等级的打线在一个单独被隔离的层间操作,不仅单个焊点打线密度降低,线与线之间的打线密度也得以降低,简化了打线的操作并且提高了可靠性。
技术关键词
导电构件 打线方法 粗铜线 打线结构 导电浆液 高密度 焊点 低密度 外露 导电体 顶端 通道 蚀刻 层叠结构 后续工艺 分层 焊盘 芯片
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