一种探测多种密度和材质的X射线探测方法及探测器

本发明涉及X射线探测技术领域，公开了一种探测多种密度和材质的X射线探测方法及探测器，其中，该方法包括：将X射线束通过双层TFT探测器结构进行穿透成像；对穿透被检测物体的X射线在第一TFT成像层上形成第一普通能量X射线图像，同时在第二TFT成像层上形成经铜质过滤层过滤后的第一高能X射线图像；进行预处理，得到第二普通能量X射线图像和第二高能X射线图像；进行双能域特征提取，构建有效原子序数图和物质密度图；执行特征空间聚类分析与决策树分类，输出最终检测结果。本发明有效地整合了不同能量域的图像信息，增强了对混合材料和复杂结构的识别能力，同时延长了TFT探测器的使用寿命，降低了系统运行成本。