一种计算处理模块成品监测方法及系统

本发明涉及集成电路板成品检测技术领域，具体而言，涉及一种计算处理模块成品监测方法及系统，通过设于成品传输带上方的线阵激光扫描仪，实时扫描途经成品传输带上的多个计算处理模块成品，进而得到每个计算处理模块成品对应的光谱图样；在光谱图样中标识出多个芯片组件对应的局部光谱图样；依次检测每个局部光谱图样是否存在平面瑕疵，若存在，则评估平面瑕疵的损伤面，并基于损伤面占比评估损伤芯片组件的破损程度。本发明所述的监测方法通过线阵激光扫描仪实时生成表征高度信息的光谱图样，结合RGB颜色阈值与图像特征提取算法，精准识别多个芯片组件的局部区域，有效避免多组件密集排布导致的干扰，提升平面瑕疵检测的定位精度和抗噪能力。