一种芯片测试校准方法及芯片测试仪

本发明涉及集成电路测试与校准的技术领域，公开了一种芯片测试校准方法及芯片测试仪；所述芯片测试校准方法，应用于芯片测试模块，具体包括以下步骤：S101：接收用户终端发送的的启动信号，执行环境初始化操作，初始化完成后，系统自动进入待机模式，等待外部触发信号或用户指令；S102：通过高精度电流传感器和电压采样电路，以预设定的采样频率同步捕获被测芯片的输入输出信号波形。本发明通过动态参数采集与实时补偿技术，将电压基准误差有效降低，温度控制精度优于±0.3℃，有效抑制环境干扰导致的信号失真，多维度校准模型结合时域、频域与统计特征分析，可动态修正非线性误差与系统漂移，使测试信号传输路径衰减误差低于0.02dB。