电接触结构老化程度评估方法、装置、设备及存储介质

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电接触结构老化程度评估方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510811021
申请日期:2025-06-17
公开号:CN120539517A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种电接触结构老化程度评估方法、装置、设备及存储介质,涉及电力设备监测与诊断技术领域。该方法包括:获取电接触结构的宽频阻抗曲线;基于向量拟合算法,对宽频阻抗曲线进行有理拟合,得到宽频阻抗曲线对应的有理极点和残差;根据有理极点和残差,确定电接触结构的电参数;根据电参数,确定电接触结构的故障类型和健康度。本申请利用宽频阻抗曲线,更能准确反映电接触结构的电气特性,通过向量拟合算法快速、有效地得到表征电接触结构状态的多种电参数,提高老化程度评估效率;进一步,通过电参数量化电接触结构的电气性能变化,为评估电接触结构老化程度提供多维且具体的数值指标,提高老化程度评估结果的准确性和客观性。
技术关键词
电接触结构 程度评估方法 宽频 计算机执行指令 拟合算法 参数 曲线 电力设备监测 长短期记忆网络 门控循环单元 可读存储介质 计算机程序产品 评估装置 电阻 存储器 处理器 电感 模块
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