基于紫外荧光信号的辐射沾染模拟侦查设备控制方法

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基于紫外荧光信号的辐射沾染模拟侦查设备控制方法
申请号:CN202510825028
申请日期:2025-06-19
公开号:CN120656352A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请涉及基于紫外荧光信号的辐射沾染模拟侦查设备控制方法,应用于辐射沾染模拟检查设备,该设备包括检测探头。该方法包括:采集目标区域的荧光强度原始信号和环境光干扰信号,并获取检测探头与目标表面的距离,其中,目标区域喷洒有荧光模拟剂且被紫外LED灯照射,模拟剂用于在紫外光激发下发射波长大于450nm的荧光;基于距离和环境光干扰信号,对荧光强度原始信号进行耦合补偿;根据校准荧光强度信号计算辐射模拟值,并输出辐射模拟值、安全等级和成分类型等信息。该方法通过无辐射模拟剂替代、信号校准及多维度分析技术手段,不仅提升了辐射检测训练的安全性,消除了真实放射源对参训人员的健康威胁,还显著提高了检测结果的精准度和信息量。
技术关键词
荧光 检测探头 光谱特征参数 紫外LED灯 侦查设备 校准 检查设备 信号 环境光干扰 强度 轻量化卷积神经网络 光电倍增管 光敏传感模块 LSTM神经网络 紫外光 电荷耦合器件 温湿度 数据获取模块
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