基于高光谱成像技术与机器学习的掺劣小麦粉快速无损检测方法

本发明涉及小麦粉无损检测技术领域，具体地说，涉及基于高光谱成像技术与机器学习的掺劣(发霉、发芽)小麦粉快速无损检测方法，包括以下步骤：采用高光谱成像系统获取小麦样本原始光谱图像，并采用SpecView软件对原始光谱图像处理；多种预处理方式，预处理原始光谱图像；采用偏最小二乘回归筛选最适合的预处理方法，构建回归模型；采用特征选择算法：非信息变量剔除算法、序列投影算法以及竞争自适应重加权采样算法提取原始光谱图像中的特征波长，作为后续定量分析实验的输入；感知预处理后的原始光谱图像，采用偏最小二乘回归、随机森林回归、多层感知器回归、支持向量回归以及XGBoost回归梯度五种回归算法和特征选择算法组合，构建高光谱检测模型。