一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质

本发明公开了一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质，包括以下步骤：1)获取待测试存储器的结构解析数据和存储器类型描述信息，生成用于表达测试目标的测试意图向量；2)以所述测试意图向量为输入，生成测试激励序列；3)执行所述测试激励序列，对存储阵列进行多周期测试，形成多模态响应特征集；4)将所述多模态响应特征集输入图神经网络中，进行故障类型识别与因果路径推理，生成故障标签序列与推理路径图；5)基于推理路径图与测试激励序列的特征差异，进行深度生成模型的权重参数更新；6)基于更新后的深度生成模型生成测试激励序列进行存储器测试。本发明可有效提升存储器测试的智能化水平及测试覆盖率。