一种芯片检测装置及方法

本申请公开一种芯片检测装置及方法，涉及检测领域，用于解决现有技术芯片检测效率低下的问题。其中装置包括：具有控制模块的检测芯片和连接器，其中，连接器用于与待测芯片的第一端连接，通过连接器和检测芯片形成第一子回环，控制模块用于通过连接器向待测芯片发送控制信号，控制信号用于触发待测芯片进行第一子回环的信号传输检测，控制模块还用于通过连接器接收第一子回环的信号检测结果。通过以上方案，可以提高芯片检测的效率。