摘要
本申请提供一种缺陷样本生成方法及设备,该方法在获取包括待检产品的无缺陷图像后,通过扩散模型,在无缺陷图像上添加噪声,获取无缺陷图像对应的噪声图像;通过神经网络模型,估测添加的噪声对应的估测噪声;通过扰动系数和估测噪声,计算与该估测噪声相对应的扰动噪声;通过扩散模型和扰动噪声,对噪声图像执行去噪处理,得到扰动后图像;通过对无缺陷图像、扰动后图像和掩码进行合并处理,得到待检产品的缺陷样本。该方法通过无缺陷图像生成缺陷样本,无需预先采集缺陷样本以及对缺陷样本进行缺陷类型的标注,因此减少了缺陷样本的采集和标注的过程所耗费的时间,相应提高了缺陷样本的生成效率。
技术关键词
待检产品
噪声图像
样本生成方法
像素点
神经网络模型
短距离
柏林噪声
透明度
感兴趣
生成算法
定位算法
生成设备
控制器