缺陷样本生成方法及设备

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缺陷样本生成方法及设备
申请号:CN202510837915
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120807410A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种缺陷样本生成方法及设备,该方法在获取包括待检产品的无缺陷图像后,通过扩散模型,在无缺陷图像上添加噪声,获取无缺陷图像对应的噪声图像;通过神经网络模型,估测添加的噪声对应的估测噪声;通过扰动系数和估测噪声,计算与该估测噪声相对应的扰动噪声;通过扩散模型和扰动噪声,对噪声图像执行去噪处理,得到扰动后图像;通过对无缺陷图像、扰动后图像和掩码进行合并处理,得到待检产品的缺陷样本。该方法通过无缺陷图像生成缺陷样本,无需预先采集缺陷样本以及对缺陷样本进行缺陷类型的标注,因此减少了缺陷样本的采集和标注的过程所耗费的时间,相应提高了缺陷样本的生成效率。
技术关键词
待检产品 噪声图像 样本生成方法 像素点 神经网络模型 短距离 柏林噪声 透明度 感兴趣 生成算法 定位算法 生成设备 控制器
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