透射电镜的像差参数确定方法、装置、设备及存储介质

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透射电镜的像差参数确定方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510841932
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120673198A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本申请公开了透射电镜的像差参数确定方法、装置、设备及存储介质,涉及透射电镜领域,包括:获取原始训练数据集,并利用目标透射电镜获取原始待测定数据集;对原始训练数据集中的第一索恩环图片进行处理以得到二值化训练图片,对原始待测定数据集中的第二索恩环图片进行处理以得到二值化目标图片;基于二值化训练图片和对应的模拟标签构建目标训练集和目标验证集以训练目标参数确定模型;将二值化目标图片输入至目标参数确定模型以确定目标参数,以基于目标参数对目标透射电镜的像差校正器进行优化;其中,目标参数为第二索恩环图片对应的第二衬度传递函数参数。本申请实现了对透射电镜对应的索恩环中包含的像差信息进行精准检测。
技术关键词
图片 参数 卷积神经网络模型 数据 校正器 标签 模型训练模块 可读存储介质 成像 训练集 处理器 曲线 误差 电子设备 存储器 计算机 线性
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