一种磁存储与磁计算并行集成的工艺实现方法

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一种磁存储与磁计算并行集成的工艺实现方法
申请号:CN202510843703
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120751922A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种磁存储与磁计算并行集成的工艺实现方法,属于集成电路制造领域领域,其具有步骤如下:S1、底电极构建与介电填充;S2、差异化MTJ堆栈构建,S3、双段分区退火;S4、后段互连与封装。本发明设提出全片轻量化堆栈沉积后定向刻蚀、再局部补充重型堆栈的方法,可形成两种不同膜厚和材料组合的MTJ器件;采用硬掩膜隔热与快速短时热退火相结合的分区退火方案,实现了MRAM区高温结晶与p‑bit区低温保持双重目标。通过差异化堆栈与分区退火两大核心技术,本发明可在同一芯片上集成高ΔMRAM存储单元与低Δp‑bit概率计算单元,无需分离工艺线或附加外部模块,从而显著降低芯片面积与系统成本。
技术关键词
磁存储 MRAM存储单元 电极 介电材料 CMP工艺 分区 涂覆光刻胶 绝缘膜 原子层沉积 金属互连 机械抛光 结晶 硬掩膜 晶圆 基片 芯片 缓冲 集成电路
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