摘要
本发明公开了一种磁存储与磁计算并行集成的工艺实现方法,属于集成电路制造领域领域,其具有步骤如下:S1、底电极构建与介电填充;S2、差异化MTJ堆栈构建,S3、双段分区退火;S4、后段互连与封装。本发明设提出全片轻量化堆栈沉积后定向刻蚀、再局部补充重型堆栈的方法,可形成两种不同膜厚和材料组合的MTJ器件;采用硬掩膜隔热与快速短时热退火相结合的分区退火方案,实现了MRAM区高温结晶与p‑bit区低温保持双重目标。通过差异化堆栈与分区退火两大核心技术,本发明可在同一芯片上集成高ΔMRAM存储单元与低Δp‑bit概率计算单元,无需分离工艺线或附加外部模块,从而显著降低芯片面积与系统成本。
技术关键词
磁存储
MRAM存储单元
电极
介电材料
CMP工艺
分区
涂覆光刻胶
绝缘膜
原子层沉积
金属互连
机械抛光
结晶
硬掩膜
晶圆
基片
芯片
缓冲
集成电路