一种自由曲面在机测量方法及系统

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一种自由曲面在机测量方法及系统
申请号:CN202510846216
申请日期:2025-06-24
公开号:CN120820120A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种自由曲面在机测量方法及系统,涉及曲面在机测量技术,包括如下步骤:对待测曲面进行自适应测量点布置;对在机测量过程中的测量点检测顺序进行规划;对在机测量采集后的测量点数据进行处理;对数据处理后的测量点,采用双三次NURBS曲面插值重构,获得待测表面的真实形状。本申请实施例的方法用于实现高效的获取待测表面真实形貌信息,作为后续打印轨迹的调整的依据,以提高曲面多层电路的打印精度。
技术关键词
测量点 测量方法 待测表面 节点 NURBS曲面 规划 采样点 曲线 模拟退火算法 参数化方法 重构 布置测点 多层电路 控制点 邻域 序列 数据 定位点 直线段
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