基于多元时序分析的试验数据拐点识别方法

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基于多元时序分析的试验数据拐点识别方法
申请号:CN202510851810
申请日期:2025-06-24
公开号:CN120724142A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请涉及数据处理技术领域,具体涉及基于多元时序分析的试验数据拐点识别方法,该方法包括:采集多元时序试验数据,组成各试验数据序列;基于各试验数据序列中相邻的波峰波谷,获取各试验数据序列中的各峰谷子序列;确定各试验数据序列的分布均匀度;获取各试验数据序列的线性趋势相关度;得到各试验数据序列的高密度趋势性,获取各试验数据序列中各峰谷子序列的多元数据关联度,确定各试验数据序列的高维冗余关联度;得到各试验数据序列的邻域距离调整因子,对DBSCAN密度聚类算法识别多元时序试验数据的拐点时的邻域距离进行调整。本申请提高了试验数据拐点识别的准确度。
技术关键词
序列 识别方法 密度聚类算法 DBSCAN密度聚类 时序 邻域 主成分分析算法 冗余 线性 数据处理技术 因子 高密度 关系 度量
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