一种基于高光谱成像技术识别核桃仁表面缺陷的方法

本发明公开了一种基于高光谱成像技术识别核桃仁表面缺陷的方法S1：获取核桃仁高光谱成像并且去除干扰噪声；S2：通过二维相关谱分析可定性分析不同缺陷类型的核桃仁；在通过热力图的可视化分析进一步增强了对腐烂核桃仁的识别能力；S3：采用改进的形态学分割算法结合Canny边缘识别表现出优越的性能，能够有效地检测核桃仁的腐烂区域。能够快速的识别核桃仁表面是否有缺陷。