摘要
本发明属于信息技术领域,涉及一种基于信息融合与智能调控的半导体光刻系统,具体通过聚焦工业机器人半导体光刻系统,多传感器融合与实时补偿技术将定位偏差大幅缩小,成品率显著提升,人工干预次数锐减。传统光刻图形转移技术图案偏差大、次品率高;多物理场监测与自适应控制技术有效减小偏差,降低次品率。传统光刻胶涂布技术均匀性偏差高、返工率高;多模态数据融合与深度学习技术大幅改善均匀性,降低返工率。传统多机器人协同技术任务完成时间长、设备利用率低;强化学习多机器人协同光刻调度技术则显著缩短任务时间,提高设备利用率。
技术关键词
多模态数据融合
算法模块
高精度定位算法
半导体光刻工艺
多传感器融合
光刻系统
光刻胶
多机器人协同技术
光刻图形
智能调控
数字孪生模型
深度学习算法
激光测距仪测距
优化光刻工艺
多传感器数据融合
监测传感器
补偿算法