一种相控阵天线幅相误差评估方法、电子设备及存储介质

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一种相控阵天线幅相误差评估方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202510869825
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120874330A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种相控阵天线幅相误差评估方法,包括:确定误差评估所需的调控参数;对不同参考幅相调节值对应的误差进行量化;构建误差函数,误差函数包括分段幅度误差函数与分段相位误差函数;基于误差函数与参考幅相调节值确定实际幅相调节值,并建立实际幅相调节值与相控阵天线中各天线单元的映射关系;建立相控阵天线仿真模型,将实际幅相调节值与参考幅相调节值输入到仿真模型对应的天线单元中完成相控阵天线幅相误差的评估。本发明同时考虑了实际的波束控制芯片幅度和相位的调控精度,以及相控阵天线在锥削赋形和波束扫描时由幅度和相位的不同调控范围引入的幅度和相位误差的权值差异,进而实现相控阵天线幅度和相位误差影响的精细化评估。
技术关键词
相控阵天线 幅相误差 偏移误差 天线单元 仿真模型 误差函数 相位误差 幅度误差 分段 初始相位偏移 计算机程序指令 参数 误差矩阵 指标 布局 电子设备 处理器 关系 控制芯片
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