一种基于高维度高效去卷积的荧光分子空间和角度分布重建方法

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正文
推荐专利
一种基于高维度高效去卷积的荧光分子空间和角度分布重建方法
申请号:CN202510871877
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120374445B
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于高维度高效去卷积的荧光分子空间和角度分布重建方法,通过新设计的空间角反投影算子和迭代框架,使得通过偏振荧光显微镜数据能够对荧光分子空间和角度分布进行更快速的重建,能够在保持噪声抑制和重建结果在空间的分辨率和角度分布准确性的情况下,将迭代次数降低至1次,显著减少了重建时间和内存占用成本。故本发明有效设计了从偏振荧光显微数据中重建分子空间角度分布的高维度高效去卷积算法,解决了现有方法迭代次数多、计算时间长、计算代价大的问题,为后续更大规模、更高维度的荧光分子结构研究提供了有力的算法支持。
技术关键词
体积图像数据 荧光显微镜装置 样本 分子 生物 视角 荧光显微装置 激光光源照明 反投影算子 去卷积算法 表达式 偏振态 噪声抑制 频率 模式 物镜
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