一种碳化硅器件终端结构、碳化硅功率器件以及芯片

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一种碳化硅器件终端结构、碳化硅功率器件以及芯片
申请号:CN202510874233
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120379318B
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本申请属于功率器件技术领域,提供了一种碳化硅器件终端结构、碳化硅功率器件以及芯片,在主结末端设置包括多个场限环的场限环结构,通过在场限环结构与芯片边缘之间形成尾部沟槽,并且设置尾部沟槽的第一侧壁倾角小于16°,尾部沟槽的第二侧壁延伸至芯片边缘,由多个结终端扩展区覆盖场限环区域,并且延伸至尾部沟槽,从而结合场限环、结终端扩展区和沟槽结构,在保证器件耐压性能的情况下,有效缩小终端长度,减少芯片的面积占用。
技术关键词
碳化硅功率器件 绝缘介质材料 场限环结构 终端 隔离沟槽 芯片 功率器件技术 沟槽结构
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