一种工业缺陷分类检测方法、装置、介质及电子设备

本发明提供了一种工业缺陷分类检测方法、装置、介质及电子设备，包括：获取参考图像，采集工业生产产品图像作为待检测图像；提取待检测图像和参考图像的原始特征进行局部图像块匹配并计算第一异常分数，第一异常分数大于预设的第一分类阈值时，将待检测图像分类为复杂图像；提取复杂图像和参考图像的浅层特征并进行特征的细粒度匹配并计算复杂图像的第二异常分数，第二异常分数大于预设的第二分类阈值时，将复杂图像分类为异常图像。应用该方法设计性能不同的模型分别完成对图像的初步筛选和复杂样本判断，利用协同工作的方式，能满足工业缺陷检测对实时性和高精度的双重需求，又能避免资源浪费。在设备布置层面还能够有效降低系统的硬件成本。