半导体设计版图的设计规则检查方法、设备、介质与产品

本发明提供了一种半导体设计版图的设计规则检查方法、设备、介质与产品。其中半导体设计版图的设计规则检查方法包括：获取半导体设计版图中设计图形的个体包围盒；使用预设网格对半导体设计版图进行划分，预设网格中的每个单元格配置有相应的标识；根据个体包围盒的顶点坐标计算得到与其相交的一个或多个单元格；获取单元格的标识及与单元格相交的个体包围盒的数据；以及为每个单元格分配一个线程，每个线程用于读取自己所属单元格内的数据，并进行独立的相交计算，得到个体包围盒的相交数据。本发明的方案，能够提供一种并行的包围盒相交检索算法，在保证正确性的同时加快计算速度；充分利用GPU的高算力，使DRC更加高效。