BGA类元件特征自适应搜索方法、系统、装置、设备和介质

本发明涉及涉及元件识别定位技术领域，公开了一种BGA类元件特征自适应搜索方法、系统、装置、设备和介质，方法包括以下步骤：从BGA类元件图像的特征区域中获取焊球的平均圆半径和每个焊球的中心位置；统计基于所述平均圆半径和每个焊球的中心位置构成的整体分布图在水平和垂直方向的投影信息；根据所述投影信息校正特征区域的倾斜角度或消除标记点，得到校正图像；根据所述校正图像上的焊球位置信息构建行矩阵和列矩阵；根据所述行矩阵和列矩阵检测所述校正图像中是否存在干扰点。该方案能够自适应搜索BGA元件尺寸特征、并具备高可靠性与自检验能力，通过自检测可以有效识别并剔除干扰点/伪特征点，保证特征搜索结果的准确性。