基于改进经验模态分解的光谱仪基线校正方法及系统

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推荐专利
基于改进经验模态分解的光谱仪基线校正方法及系统
申请号:CN202510881808
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120763473A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本公开涉及光谱基线校正技术领域,提出了一种基于改进经验模态分解的光谱仪基线校正方法及系统,包括如下步骤:采用滑动窗平滑方法,对获取的测量光谱数据进行预处理;采用改进的经验模态分解算法,对预处理后的测量光谱数据进行拟合得到的基线数据,所述的改进的经验模态分解算法采用最小二乘拟合构造光谱数据的上下边界包络;将获取的测量光谱数据中减去拟合得到的基线数据,得到基线移除后的测量光谱数据;对基线移除后的测量光谱数据依次进行异常点检测与移除、光谱功率校准以及波长校准,得到基线校正后的光谱数据。本公开通过改进经验模态分解识别光谱基线,增强模态分解的稳定性与边界适应性,获得更准确的基线拟合结果。
技术关键词
基线校正方法 经验模态分解算法 数据 平滑方法 异常点 光谱基线校正 波长校准方法 包络 功率校准方法 滑动窗口 光纤光谱仪 计算机 处理器
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