一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

本申请涉及集成电路验证技术领域，提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：响应于目标验证请求，基于约束条件管理空间中的各个事务级约束条件，确定与目标验证请求对应的至少一个第一事务级约束条件；基于各个第一事务级约束条件，确定目标验证请求对应的各个约束变量的变量取值范围；根据各个第一事务级约束条件和各个约束变量的变量取值范围构成的集合，构建目标约束池；基于针对待测芯片的验证需求，从目标约束池中确定与验证需求对应的激励信号；将激励信号发送至待测芯片，获得待测芯片生成的反馈信号作为验证结果。采用该方法，提高了针对芯片验证的灵活性和精度。