基于多接口高并发与智能分析的BMC自动化测试系统

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正文
推荐专利
基于多接口高并发与智能分析的BMC自动化测试系统
申请号:CN202510882565
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120704966A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明提供了基于多接口高并发与智能分析的BMC自动化测试系统,通过配置解析模块生成结构化测试参数,会话管理模块创建并维护多用户会话,线程池控制器模块根据BMC的CPU使用率动态调整线程池大小。接口适配层模块支持多种协议的统一调用。结果统计与故障预测模块对测试结果进行多维度分析,并采用LSTM时间序列模型预测接口失败概率,生成高风险接口列表及根因定位建议,触发复测任务。系统支持测试任务优先级调度,为复测任务预留线程资源,确保主测试与复测任务协同执行。测试报告以HTML或CSV格式输出。本发明可广泛应用于服务器BMC的自动化测试与智能运维场景,提升测试覆盖率、效率与问题定位能力。
技术关键词
控制器模块 自动化测试系统 时间序列模型 生成测试报告 会话 读取配置文件 多接口 高风险 错误日志 列表 参数 监控仪表盘 自动化测试方法 对象 错误码 测试覆盖率 LSTM模型 运维场景
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