一种基于射线检测的复杂金属制品内部缺陷分析方法

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一种基于射线检测的复杂金属制品内部缺陷分析方法
申请号:CN202510884277
申请日期:2025-06-30
公开号:CN120741526A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于射线检测的复杂金属制品内部缺陷分析方法及系统,通过工件三维模型生成螺旋轨迹扫描路径,利用六轴协作机械臂带动微型X射线源沿路径运动,结合压电陶瓷驱动机构实现±5μm定位补偿,配合探测器阵列模块进行多模态射线扫描与实时数据采集。采集数据经LVDS差分接口传输至实时数据处理模块,由JetsonTX2嵌入式GPU执行FDK算法完成层析图像重建,再通过TensorRT推理引擎加载3D‑ResNet神经网络模型实现缺陷智能识别,最终生成检测报告上传至MES系统。系统包括射线发生模块、多自由度机械臂承载模块等,高压发生器电路含ZVS谐振电路,运动控制模块采用FPGA+ARM双核架构。
技术关键词
缺陷分析方法 高压发生器电路 金属制品 缺陷分析系统 射线 实时数据处理 高精度运动控制 多自由度机械臂 CameraLink接口 压电陶瓷驱动 光电转换电路 协作机械臂 神经网络模型 运动控制模块 实时数据采集 双核架构 非晶硅平板探测器 工件CAD模型 缺陷智能
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沪ICP备2023015588号