回归验证方法及装置

本申请公开了一种回归验证方法及装置，可用于芯片验证技术领域。所述回归验证方法包括：实时监测每个测试用例的运行状态，在所述测试用例运行结束时，将该测试用例的运行状态信息保存至第一文件；实时访问所述第一文件，每次取出所述第一文件中的一测试用例的运行状态信息，对所述测试用例的运行状态信息进行校验，若校验通过，则将所述测试用例的运行状态信息保存至第二文件；实时访问所述第二文件，每次取出所述第二文件中的一测试用例的运行状态信息，并基于所述测试用例的运行状态信息，生成所述测试用例的仿真波形。本申请提供的回归验证方法及装置，能够提高回归验证的实时性和效率。