一种芯片测试管理方法、系统及装置

本发明公开了一种芯片测试管理方法、系统及装置，涉及芯片测试管理技术领域，具体包括以下步骤：在出现实际搬运路径未覆盖全部数据段的现象时，采集搬运区域的快照数据，以识别实际被数据覆盖的所有目标数据段与未被数据覆盖的所有目标数据段，并将其分别标定为有效搬运段和搬运缺失段；获取所有有效搬运段和所有搬运缺失段对应的覆盖结构化信息，并在获取后进行分析，评估在出现实际搬运路径未覆盖全部数据段现象时的覆盖缺失程度；根据评估结果，分别执行对应的数据搬运补全策略，并对执行过程进行动态调控。本发明解决了芯片数据搬运覆盖缺失识别与补全难题，实现了覆盖缺失程度评估与动态策略执行的精准控制。