基于邻域信息的晶粒测试方法、终端、系统及存储介质

本发明涉集成电路测试技术领域，提供了一种基于邻域信息的晶粒测试方法、终端、系统及存储介质，方法包括：根据测试数据表中的第一次测试数据确认故障晶粒，所述测试数据表通过对晶圆上的所有晶粒进行第一次测试得到；计算所述故障晶粒的故障晶粒邻域率，所述故障晶粒邻域率为晶粒邻域内有故障的晶粒的比率；根据所述故障晶粒邻域率判断是否对所述故障晶粒进行第二次测试。本方法通过对故障晶粒进行分类测试，相较于传统的重测试方法可以达到更高的平均预测准确度和平均测试项节省，在保证测试质量的前提下，可以有效地降低重测试的成本。