一种薄膜开关的性能检测方法及系统

本发明公开了一种薄膜开关的性能检测方法及系统，涉及性能检测技术领域，解决了难以考虑到不同种类薄膜开关的特性，针对特定类型的薄膜开关设置更加精细的检测评估方案，难以精确的分析各种薄膜开关的综合性能的技术问题；通过设置不同温度变化率，可模拟薄膜开关在极端或复杂环境下的工作状态。通过检测红外图像便于直观显示开关表面的温度分布均匀性，揭示局部过热或散热不良区域，结合运行数据，便于从多个维度检测薄膜开关的性能。分析PET基型的电阻温漂稳定性，以及FPC基型的微电路阻抗稳定性，结合劣化系数和温度性能评估系数，进行综合性能评估，量化不同类型薄膜开关的可靠性。